恒溫恒濕試驗箱有經(jīng)驗術(shù)語之濕度是指氣體中水蒸氣的含量。常用相對濕度、濕度、露點溫度表示濕度，它們之間有內(nèi)在聯(lián)系，可以通過公式換算。下面就為您講述相對濕度、濕度、露點溫度的不同定義：　　　　相對濕度：濕氣中水蒸氣的摩爾分數(shù)Xv與相同溫度和壓力條件下飽和水蒸氣的摩爾分數(shù)Xsv之比值，用符號U表示。U=(Xv/Xsv)×高標準　　　　濕度：單位體積濕氣中水蒸氣的質(zhì)量，用符號dv表示，其單位為kg/m3。dv=Mv/V　　　　露點溫度：壓力為P、溫度為T、混合比值為r的濕氣，其熱力學露溫度是指在此給定壓力下，該濕氣為水面飽和時的溫度，用符號Td表示，其單位為℃�！　　　￡P(guān)與恒溫恒濕試驗箱有經(jīng)驗術(shù)語之濕度的定義相信大家都已經(jīng)了解了，如有疑惑的地方，請拔打北京雅士林試驗設(shè)備有限公司技術(shù)部電話咨詢。 [詳情]

產(chǎn)品檢驗實踐告訴我們，高低溫試驗箱在開機和每次的加溫、保溫過程中產(chǎn)品的溫度過沖對被試驗產(chǎn)品是非常有害的。尤其是那些溫度敏感的產(chǎn)品和膠合材料，瞬時過沖的溫度都會導致產(chǎn)品的損壞和膠合材料的失效。但這個問題在以往的國標“溫度箱技術(shù)條件”和國標“溫度試驗設(shè)備檢驗方法”中都未作規(guī)定，使得部分高低溫試驗箱的用戶承擔了標準規(guī)定缺失帶來的風險。標準現(xiàn)狀也導致高低溫試驗箱制造商不愿在這方面花費太多成本，也是國內(nèi)高低溫試驗箱制造水平上不去的諸多因素之一�？上驳氖窃谛滦抻喌腉B/T5170.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備》、GB/T5170.5-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕度試驗設(shè)備》中對溫度過沖、甚至濕度過沖都做出了要求。國家標準對高低溫試驗箱溫度過沖的要求 http://www.bjyashilin.com.cn ? [詳情]

　　不同的試驗標準中有許多的不統(tǒng)一的地方，造成在高低溫試驗箱檢驗和校準過程中，同樣的檢驗與校準數(shù)據(jù)，依據(jù)不同的依據(jù)標準可以得出不同的結(jié)論，有的依據(jù)標準可以得出合格的結(jié)論，而有的依據(jù)標準可以得出相反的不合格結(jié)論�！　　　「叩蜏卦囼炏涞臋z驗與校準的標準不同之處：溫度偏差計算方法的不同　　　　GB/T5170.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備》中8.4.1條溫度偏差計算方法是這樣規(guī)定的：設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測量點的實測較高溫度、較低溫度與標稱溫度的上下偏差，即為高低溫試驗箱在該標稱溫度下的溫度偏差。計算公式如下：△Tmax=Tmax-Tn△Tmin=Tmin-Tn式中△Tmax為溫度上偏差；△Tmin為溫度下偏差；Tmax各測量點在30min內(nèi)的實測較高溫度值；Tmin各測量點在30min內(nèi)的實測較低溫度值；Tn為標稱溫度值。　　　　JJF1101-2003《環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準規(guī)范》中6.3.1條溫度偏差計算方法是這樣規(guī)定的：△td=td-to式中△td為溫度偏差；to為中心點n次測量的平均值；td為設(shè)備顯示溫度平均值。　　　　GB/T10592-2008《高低溫試驗箱技術(shù)條件》中溫度偏差計算方法是這樣的規(guī)定的：在工作空間中心測試點的溫度靠前達到測試溫度并穩(wěn)定2h后，每隔2min測試所有點的溫度1次，在30min內(nèi)供測15次，隔30min在測1次，以后每隔1h測試1次，共測24h。利用24h的測試數(shù)據(jù)，分別算出較高、較低溫度與該標稱溫度下的溫度偏差，以上單位為攝氏度℃�！　　　±�如在一臺高低溫試驗箱檢驗中，標稱溫度為100℃，工作空間各測量點的實測較高溫度為102.5℃、較低溫度101.0℃，中心點溫度101.8℃，設(shè)備顯示溫度100℃。按JJF1101-2003中溫度偏差計算方法計算：溫度下偏差△td=100-101.8=-1.8＜±2℃，判為合格�？墒前碐B/T5170.2-2008中溫度偏差計算方法計算：溫度下偏差△Tmin=101.0-100=1.0＜±2℃，溫度上偏差△Tmax=102.5-100=2.5℃＞±2℃，卻判為不合格，由上可見，三類檢驗與校準的依據(jù)標準中溫度偏差計算方法的不同，會得出不同的結(jié)論來�！　　　� ? [詳情]

　　高低溫濕熱試驗箱校準用標準設(shè)備要求如下：　　　　一、溫度測量系統(tǒng)　　　　溫度測量系統(tǒng)可采用溫度巡檢儀或溫度傳感器（時間常數(shù)應小于15s）、轉(zhuǎn)換開關(guān)和數(shù)字溫度表組成的測量系統(tǒng)。整套測量系統(tǒng)應具有溫度修正值，且系統(tǒng)不確定度不大于被檢設(shè)備允許誤差工1/3�！　　　《�、濕度測量系統(tǒng)　　　　濕度測量系統(tǒng)可由多點數(shù)字濕度計或數(shù)字通風干濕表、氣壓表或同等精度的濕度計組成。濕度的均勻度也可由鉑電阻組成的干、濕球溫度計及配套電測設(shè)備測量。干、濕球溫度計由兩支特性基本一致的鉑電阻溫度計組成，且具有溫度修正值。其測量系統(tǒng)的不確定度應不大于被檢設(shè)備允許誤差的1/2～1/3。　　　　三、標準設(shè)備需經(jīng)有關(guān)計量技術(shù)機構(gòu)檢定合格，并在檢定周期內(nèi)。　　　　 [詳情]

　　標準號：GB/T7141-2008塑料熱老化試驗方法代替了GB/T7141-1992《塑料熱空氣暴露試驗方法》，本標準提供了在單一溫度和一系列溫度變化下每種材料進行暴露試驗時的試驗方法和結(jié)果比較方法，試驗結(jié)果可用于材料溫度穩(wěn)定性的基本評定或在設(shè)定溫度下的非常大預期使用壽命的評估。以下是GB/T7141-2008塑料熱老化試驗方法的規(guī)范性引用文件。GB/T2035塑料術(shù)語及其定義（GB/T2035—2008ISO472：1999，IDT）　　　　GB/T2規(guī)格塑料試樣狀態(tài)調(diào)節(jié)和試驗的標準環(huán)境（GB/T2規(guī)格—1998idtISO291：1997）　　　　GB/T7142塑料長期熱暴露后時間—溫度較限的測定（GB/T7142-2002ISO2578:1993，MOD）　　　　GB/T11026.4—1999確定電氣絕緣材料耐熱性的導則　　　　第4部分：老化烘箱單室烘箱（idtIEC60216-4-1:1990）　　　　ISO16014-2塑料——體積排斥色譜法測定平均分子量分布　　　　第2部分：通用校正法　　　　ASTMD3826：1998（2002）用拉伸試驗測定聚乙烯和聚丙烯降解較終老化點的測定　　　　注：GB/T2035的術(shù)語和定義適用于本標準知識回饋之熱老化試驗箱規(guī)范性引用文件http://www..com/　　　　 [詳情]

　　鹽霧試驗箱中鹽霧沉降率是指單位時間內(nèi)在單位面積上沉降的鹽霧量，是鹽霧試驗的一個重要參數(shù)，反映噴霧密度和均勻性的特性。鹽霧試驗的腐蝕產(chǎn)生，除腐蝕介質(zhì)氯離子本身的作用外，還受金屬表面液膜中氧的擴散影響。鹽霧顆粒越細，所形成的表面積越大，被吸附的氧量越多，腐蝕性也越強。自然界中，90%以上鹽霧顆粒的直徑為1Lm以下。研究表明:直徑1Lm的鹽霧顆粒表面所吸附的氧量與顆粒內(nèi)部溶解的氧量是相對平衡的。鹽霧顆粒再小,所吸附的氧量也不再增加。但如果液膜中的氧是靜止的，當液膜與金屬接觸，金屬會很快腐蝕，同時液膜中的氧也很快下降，使腐蝕反應減慢。如果液膜不斷更新，腐蝕就會連續(xù)進行。金屬表面液膜的更新速度隨鹽霧試驗箱中鹽霧沉降率的增加而加快。鹽霧沉降率太低，就會影響到金屬表面液膜的更新速度。當沉降率小于0.3mL/80cm2·h時，腐蝕速度隨沉降率的增加而增加。這是因為金屬表面液膜較薄，氧很快到達陰較表面，故腐蝕率會緩慢上升，并逐步趨于平穩(wěn)；當沉降率超過1.2mL/80cm2·h時，液膜繼續(xù)增厚，氧擴散距離加大，到達陰較表面困難，腐蝕速度反而不加快。因此,取適中的鹽霧沉降率,使腐蝕速度穩(wěn)定,試驗結(jié)果重現(xiàn)性好。通常要求鹽霧沉降率控制在1~2mL/80cm2·h范圍內(nèi),以保證鹽霧試驗箱中試驗結(jié)果的正確性。鹽霧試驗箱中鹽霧沉降率對試驗結(jié)果的影響http://www.bjyashilin.com/　　　　 ? [詳情]